激光散斑成像新突破：SpecTrack实现高精度姿态追踪，精度提升200％
提高姿态估计精度
（映维网Nweon 2025年03月14日）由于精确姿态检测在确保准确定位信息方面的关键作用，所以AR/VR和机器人等领域越来越需要精确的姿态检测。然而，传统基于视觉的系统通常难以实现高精度，特别是在处理复杂环境或快速移动的物体时。
为了解决所述限制，伦敦大学学院，Adobe，英伟达团队研究了激光散斑成像Laser Speckle Imaging（LSI），通过这种新兴的光学追踪方法来提高姿态估计精度。
具体来说，团队提出的基于LSI追踪方法SpecTrack利用来自无镜头摄像头和具有编码孔径的反向反射标记的捕获来实现高精度的多轴旋转姿态估计。他们利用内部构建的测试平台进行了广泛的试验，并表明SpecTrack的精度为0.31°（std=0.43°），显着优于最先进的方法，将精度提高了200%。
当相干激光从光学粗糙的表面反射时，散斑图案出现为白点和黑点的随机混合，并且干涉被成像传感器捕获。团队提出的SpecTrack使用LSI来捕获多个轴的绝对旋转。
......（全文 1126 字，剩余 786 字）
请微信扫码通过小程序阅读完整文章或者登入网站阅读完整文章
映维网会员可直接登入网站阅读
PICO员工可联系映维网免费获取权限
