德国物理学家开发出纳米断层摄影技术，能检测纳米结构场在透镜焦点位置
嵌入了有关不可见特性的所有信息
（映维网 2019年09月24日）结构光是一组由投影仪和摄像头组成的系统结构。用投影仪投射特定的光信息到物体表面后及背景后，由摄像头采集。根据对象造成的光信的变化来计算对象的位置和深度等信息，进而复原整个三维空间。
如果透镜能够紧密地聚焦这种光结构，就如同利用日光燃烧火柴的放大镜一样，则它将能形成高强度的三维光景，从而显著提高分辨率。这类光景为诺贝尔化学奖受激发射损耗（STED）荧光显微术等开拓性应用铺平了道路。
图片来源：Pascal Runde/phys.org
但是，这种纳米场本身无法测量，因为组件是通过紧密聚焦形成。对于典型的测量技术而言，这不可见。一直以来，缺乏合适的计量方法已经阻碍了纳米结构光景帮助材料加工，光学镊子或高分辨率成像工具等领域取得突破。
不过，由德国应用物理学研究所（Institute of Applied Physics）的物理学家Cornelia Denz博士和德国明斯特大学的化学家Bart Jan Ravoo教授组成的团队成功开发了一种纳米断层摄影技术，据介绍，所述技术能够检测纳米结构场在透镜焦点位置中通常不可见的特性，而且无需任何复杂的分析算法或数据后处理。为了做到这一点，团队结合了纳米光学和有机化学领域的知识，并实现基于单层有机分子的方法。通过将单层有机分子放置在聚焦光场中，并通过荧光响应这一照明，研究人员成功嵌入了有关不可见特性的所有信息。
再通过检测所述响应，团队可以通过单个摄像头图像对纳米场进行独特的识别。这项研究的负责人Cornelia Denz表示：“所述方法最终为这种纳米结构的光景打开了尚未开发的潜力，并可用于更多的应用。”目前，团队的研究已经发表在《Nature Communications》期刊。
