微转印技术首次实现蓝光激光器与氮化硅光子芯片集成

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微转印技术首次实现蓝光激光器与氮化硅光子芯片集成

映维网Nweon 2026年09月21日)一支研究团队首次利用微转印技术将蓝光InGaN激光器集成到氮化硅光子集成电路上,并在455纳米波长实现了脉冲激射。

微转印技术首次实现蓝光激光器与氮化硅光子芯片集成

可见光集成光子学在增强现实和虚拟现实等领域具有重要应用前景。氮化硅平台因其超宽带隙、CMOS兼容性和低传播损耗,是可见光波段理想的无源光子集成平台。然而,氮化硅本身不发光,需要集成高性能光源。氮化镓材料是蓝光激光器的核心,但将其集成到氮化硅上一直面临挑战。传统的晶圆键合和倒装芯片键合各有局限,而微转印技术则提供了一种材料高效、可并行集成的替代方案。不过,由于氮化镓化学惰性强,器件释放通常依赖电化学蚀刻,容易损伤材料。

在这项研究中,团队采用重锗掺杂的n型InGaN作为牺牲释放层,结合优化的电化学蚀刻条件,从体GaN衬底上成功释放出表面光滑的薄膜激光器。随后,他们将这些激光器微转印到氮化硅平台上,并采用对接耦合架构。为了优化光耦合,研究人员设计了多尖端叉形氮化硅边缘耦合器,模拟显示在455纳米波长下耦合效率超过85%,同时保持对制造误差的容忍度。

集成后的器件表现出良好的电学特性,电流密度超过20 kA/cm²。在直流或高占空比激发下,器件仅表现为自发发射;当采用低占空比脉冲模式(0.1%占空比)时,在455纳米处实现了激射,阈值电流为450毫安,片上峰值功率约1.8毫瓦。另外,研究还展示了488纳米附近的波导耦合自发发射。不过,连续波操作尚未实现,主要障碍是热管理:较高的阈值电流和串联电阻导致显著发热,使器件无法在连续波下达到激射条件。激光腔面也可能受到释放工艺的影响。

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研究人员表示,这是首次在氮化硅平台上实现微转印蓝光激光器。未来通过优化热管理、增加腔面涂层、改进耦合器设计,有望实现连续波操作和更高输出功率。

这项技术为可见光集成光子学提供了新的集成路径,可能推动增强现实和虚拟现实等应用的发展。

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